Silicon Labs は新しい自動車級絶縁製品で、絶縁要件に対応する統合ソリューションを求める自動車分野のニーズに応えます。 これらの絶縁製品は工業用絶縁製品と同じ優れた特長および性能を持ち、認定を受けていますが、それに加え、最も要件の厳しい自動車用途にも対応できる、自動車製造フロー、欠陥削減の強化、高度な試験技術の価値も備えています。 バッテリ管理システムからオンボード充電器、充電ステーションに至るまで、Silicon Labs はあらゆる車載絶縁ニーズにお応えします。
- 車載生産フロー
- 欠陥ゼロ精神
- AEC-Q100 認定
- 車載ウエハープローブおよび試験プロセス
- 車載温度範囲（-40 ～ +125 ºC）
- グローバル絶縁認定
- 生産部品承認プロセス（PPAP）文書
- 原材料リストサポート
- その他
産業グレード（-I）と車載グレード（-A）の比較 |
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| Si8xxx-I | Si8xxx-A | ||
| 品質および信頼性 | AEC-Q100 認定 | データシートを参照する | あり |
| ISO/TS16949 監査に準拠 | あり | あり | |
| VDA 監査に準拠 | なし | あり | |
| 動作温度 | 様々 | -40〜125 °C | |
| DPPM | <50 | ゼロ欠陥方法 | |
| 故障分析 | 標準 | 優先度 | |
| ファウンドリー | 車載プロセスフロー | なし | あり |
| WAT SPL モニタリング | なし | あり | |
| 拡張型ビン制限セット | なし | あり | |
| プローブ | 優れたダイ、悪いクラスターの検出 | なし | あり |
| Vbump テスト | あり | あり | |
| ダイナミック PAT | なし | あり | |
| アセンブリ | 光学検査の強化 | なし | あり |
| 認定機器および事業者 | なし | あり | |
| テスト | 室温、高温および低温テスト | 100% の室温または高温テスト（その他の温度はサンプリング） | 100% の室温および高温テスト（低温サンプリング） |
| フル電源範囲テスト | あり | あり | |
| AEC-Q100 基準に対して測定および記録されたカバレッジテスト | あり | あり | |
| 資料 | 部品生産承認プロセス（PPAP） | なし | あり |
| 国際材料データシステム（IMDS） | なし | あり | |
| 中国車載材料データシステム（CAMDS） | なし | あり | |
電気車両のクイックリファレンスガイド
電気車両システムでの絶縁に関する概要
